La tecnica

Il microscopio elettronico a scansione (SEM) opera come un normale microscopio ottico sfruttando però come sorgente luminosa un fascio di elettroni che, incidendo sulla superficie del campione, permette di ottenere un’immagine ad elevati ingrandimenti (fino a 150/200 mila) con un potere risolutivo dell’ordine di 1 nm.

Il SEM è normalmente accoppiato ad uno spettroscopio in dispersione di energia (EDS) che, grazie all'analisi dei raggi X emessi in seguito all'interazione elettroni-campione, consente analisi semi-quantitative degli elementi chimici presenti nel materiale.

Applicazioni

Il SEM permette osservazioni dettagliate della morfologia di superficie e dei cristalli presenti. Grazie all’accoppiamento con la spettroscopia in dispersione di energia sono inoltre possibili studi sullo stato di conservazione e sulla progressione del degrado di tutti i materiali, sulla composizione di superfici policrome, di cristalli di neoformazione e di leghe metalliche.

Strumentazione

THERMO FISHER SCIENTIFIC, Phenom XL.

In breve

Strumentazione da banco, invasiva, imaging, elementale.