La tecnica

La spettroscopia di fluorescenza ai raggi X (XRF) è una tecnica di analisi che può essere applicata alla maggior parte dei materiali inorganici. Le sue caratteristiche di non invasività e non distruttività, unite alla possibilità di utilizzare una strumentazione portatile, rendono possibile l’esecuzione di analisi in situ, e per questa ragione, tale strumentazione è particolarmente adatta alle applicazioni nel campo dei beni culturali. Nell’XRF l’identificazione degli elementi chimici costituenti il campione avviene tramite l’analisi dello spettro di raggi X che gli elementi emettono in seguito all’eccitazione prodotta dai raggi X emessi dallo strumento.

Applicazioni

Nel campo dei beni culturali questa tecnica viene applicata comunemente per l’identificazione dei pigmenti impiegati nella realizzazione di un’opera, da cui si può per esempio individuare la tavolozza dell’artista e identificare eventuali ritocchi non originali, per la caratterizzazione delle leghe metalliche componenti un manufatto e di alcuni ioni coloranti utilizzati per la colorazione dei vetri.

Strumentazione

BRUKER, Tracer III-S.

In breve

Portatile, non invasiva, elementale, rapida.